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新型晶体管Hole FinFET

发布时间:2019-02-01
责任编辑:王亚鹏
来源:中国知识产权网

  参赛队名

  微知

  牵头单位

  中国科学院微电子研究所

  项目名称

  新型晶体管Hole FinFET

  项目介绍

  本专利的技术方案涉及半导体器件及其制造方法,属于代表未来16nm及以下主流的三维鳍式场效应晶体管(FinFET)器件结构和制造工艺,在过去近半个世纪,传统的平面器件无法抑制日益严重的短沟道效应和维持驱动性能的提高,FinFET技术是克服上述挑战的主要手段之一,本专利提出了一种兼具平面MOSFET和FinFET优点的新型MOSFET器件结构。解决了半导体制造领域中在抑制器件的短沟道效应的同时减小寄生电容和寄生电阻的这一世界性共性难题。

  获得荣誉

  2018年北京市海淀区高价值专利培育大赛二等奖。

  

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本专利的技术方案涉及半导体器件及其制造方法,属于代表未来16nm及以下主流的三维鳍式场效...

本专利的技术方案涉及半导体器件及其制造方法,属于代表未来16nm及以下主流的三维鳍式场效应晶体管(FinFET)器件结构和制造工艺,在过去近半个世纪,传统的平面器件无法抑制日益严重的短沟道效应和维持驱动性能的提高,FinFET技术是克服上述挑战的主要手段之一。